活動報告
計装測定分科会 報告
2018年3月9日
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講演の様子
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計装測定分科会コーディネータ 森先生の講演
粒子計測を中心とした最新の粉体物性測定手法とアプリケーションに着目し、これらの測定法の特徴や違い、ラウンドロビンテスト結果なども交えた基調講演、さらに主に計測器メーカ12社から最近の取り組みやアプリケーション紹介を行いました。講演テーマと講演者は以下の通りです。
◎基調講演『粉体計測機器の基礎と選定の要点』
同志社大学 理工学部 教授 森 康維 様
◎企業プレゼン
①『画像式粒度分布装置カムサイザーシリーズのご紹介と測定事例』
ヴァーダー・サイエンティフィック㈱ 松脇 崇晃様
②『動的光散乱法および電気泳動光散乱法を用いたナノ粒子物性評価』
大塚電子株式会社 田中 克治様
③『高濃度コロイド粒子の粒度分布・ゼータ電位測定装置』
協和界面科学株式会社 二江 隆之様
④『分散体を含む液体サンプルのせん断変化による粘度変化の新しい評価方法のご紹介』
三洋貿易株式会社 吉川 貴士様
⑤『レーザ回折・散乱法の新展開』
㈱島津製作所 鷲尾 一裕
⑥『粒子形状画像解析装置PITA-04の紹介』
㈱セイシン企業 照井 愼一様
⑦『微小粒子材料の評価』
東芝ナノアナリシス株式会社 本多 明日香様
⑧『超音波方式・動的光散乱方式による濃厚系の粒子径分布測定とパルスNMRによる
粒子界面特性評価』 日本ルフト株式会社 池田 純子様
⑨『HORIBAの粒子径分布測定装置のご紹介』
㈱堀場製作所 保田 芳輝様
⑩『粉粒体物性評価の最新技術〈粒子計測/材料分析〉』
マイクロトラック・ベル株式会社 谷江 和哉様
⑪『粒子計測のトータルソリューション ラボ測定からインラインまで』
スペクトリス㈱マルバーン事業部 佐藤 文章様
⑫『ナノ材料測定の新技術 Liqui Scanによる高分解能粒径測定+ナノ粒子分級』
東京ダイレック株式会社 伊藤 卓也様
以上